Detalle de la norma NMX-R-62622-SCFI-ANCE-2014
Información principal
Nanotecnologías-Descripción, medición y descripción de parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales
DEFINITIVA
13/Apr/2015
12/Jun/2015
Información general
91.180.01
INDUSTRIAS DIVERSAS
NANOTECNOLOGÍA
SECRETARÍA DE ECONOMÍA (CÓMITES TÉCNICOS DE NORMALIZACIÓN NACIONAL), ASOCIACIÓN DE NORMALIZACIÓN Y CERTIFICACIÓN, A.C. (ANCE)
COMITÉ TÉCNICO DE NORMALIZACIÓN NACIONAL EN NANOTECNOLOGÍAS, COMITÉ DE NORMALIZACIÓN DE LA ASOCIACIÓN DE NORMALIZACIÓN Y CERTIFICACIÓN, A.C. (CONANCE)
Concordancia internacional
Esta norma mexicana coincide totalmente con la especificación técnica IEC/TS 62622 Nanotechnologies-Description, measurement and dimensional quality parameters of artificial gratings.
Idéntica
Historial Documental de la Norma
